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泰克2015年度創(chuàng)新論壇啟動 聚焦大數(shù)據(jù)和工業(yè)4.0時代測試測量

2015年5月26日 13:17  CCTIME飛象網(wǎng)  

    知名全球示波器廠商泰克公司日前宣布,泰克2015年度創(chuàng)新論壇(TIF)于5月20日至29日分別在北京、上海、西安和深圳舉行。本屆TIF將與業(yè)界工程師共同分享泰克最新的產(chǎn)品突破以及滿足大數(shù)據(jù)時代以高效能運算為核心的多種最新工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的測試方案。論壇現(xiàn)場還設(shè)立了12個展位,讓與會者零距離參觀、調(diào)試泰克各種測試測量解決方案和產(chǎn)品。

    移動智能設(shè)備和云數(shù)據(jù)處理迅猛發(fā)展,特別是工業(yè)4.0時代的到來,使得云計算、云存儲、移動互聯(lián)網(wǎng)、智能硬件、多媒體高清顯示設(shè)備等熱門技術(shù)迅速普及,為新一輪的設(shè)計和測試測量技術(shù)帶來了革新與挑戰(zhàn)。為此,本屆創(chuàng)新論壇以“自主創(chuàng)新,工業(yè)4.0時代的測試測量”為主題,用十多個熱點專題與與會者深度探討工業(yè)4.0時代將帶來的測試測量挑戰(zhàn)與應(yīng)對之道!叭绾胃痈咝У慕鉀Q工業(yè)4.0核心技術(shù)互聯(lián)互通的測試問題,對工程師來說顯得非常迫切和必要。”泰克公司大中華區(qū)市場總監(jiān)徐贇指出,“泰克公司一直致力于應(yīng)對工業(yè)發(fā)展中的各種測試挑戰(zhàn),擁有業(yè)界最具性價比、創(chuàng)新型的綜合測試解決方案,能幫助工程師完美地解決各種挑戰(zhàn)。本次TIF四地研討會主題豐富,將幫助中國工程師提前為應(yīng)對工業(yè)4.0時代的測試測量挑戰(zhàn)做好準(zhǔn)備!

    DPO70000SX系列示波器以顛覆性架構(gòu)定義高端示波器新境界

    在本屆TIF上,泰克公司也將攜劃時代的DPO70000SX系列示波器亮相各大會場,由專家介紹DPO70000SX的專利技術(shù)異步時序交織(ATI)是如何實現(xiàn)傲視業(yè)界的低噪聲、高保真的信號實時采集,并分享DPO70000SX是如何應(yīng)用于超寬帶、相干光、前沿研究、雷達(dá)及高速串行數(shù)據(jù)通信等相關(guān)的測試領(lǐng)域。

    迎接USB3.1時代的變化與挑戰(zhàn)

    通用串行總線(USB)已經(jīng)成長為很多嵌入式行業(yè)、汽車和消費應(yīng)用中的常用接口。以往的USB2.0 工作于480 Mb/s,而現(xiàn)行的USB 3.1 將數(shù)據(jù)速率提升了20倍、高達(dá)10Gb/s,這給工程師帶來了全新的檢定和驗證挑戰(zhàn)。本屆TIF上,泰克將關(guān)注該主題的四個重點方面:USB 3.1和3.0之間的物理層差異;10 Gb/s通道定義和抖動預(yù)算;USB Type-C連接器測試概述;新的128b/132b編碼方式及其對測試解決方案的影響。

    加速多媒體高清設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的測試

    移動多媒體平臺的高速發(fā)展引領(lǐng)一系列顯示技術(shù)的革命,因此多媒體高清設(shè)備接口測試也將是本屆TIF關(guān)注的一個重點。論壇現(xiàn)場,泰克專家將介紹與HDMI2.0、DisplayPort1.2/1.3相關(guān)的最新顯示接口標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展、測試要點和挑戰(zhàn),以及如何使用泰克的測試方案加速驗證周期。

    十四個專題,測試測量熱點全覆蓋

    “在本屆TIF研討會上,北京、西安和上海站我們安排了A、B兩個會場,以滿足工程師對不同測試技術(shù)與方案的需求。并根據(jù)各地工程師的實際需求,論壇專題演講安排有所側(cè)重!毙熨毥榻B道。據(jù)悉,除上述論壇主題外,DDR4的標(biāo)準(zhǔn)更新及測試方案、泰克混合域示波器動手實用技能課程、泰克射頻創(chuàng)新解決方案、可穿戴設(shè)備耗電測試、泰克智能實驗室、信號完整性分析及一致性測試,以及覆蓋至V波段的超寬帶信號仿真及測試、克服先進(jìn)顯示材料的測量挑和工業(yè)4.0時代的互聯(lián)互通測試解決方案,共十四個專題內(nèi)容涵蓋了當(dāng)前測試測量的主要熱點。“泰克的年度創(chuàng)新論壇一直是工程師了解測試測量技術(shù)發(fā)展最新現(xiàn)狀與趨勢的年度盛會,今年我們將繼續(xù)為與會者帶來一場測試測量技術(shù)的饕餮盛宴!”徐贇表示。

編 輯:董萍
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